กรุณาใช้ตัวระบุนี้เพื่ออ้างอิงหรือเชื่อมต่อรายการนี้:
http://dspace.spu.ac.th/handle/123456789/822
ชื่อเรื่อง: | Optical-beam profiling by bias-controlled metal-semiconductor-metal structures |
ผู้แต่ง/ผู้ร่วมงาน: | Sanya Khunkhao |
วันที่เผยแพร่: | 29-กรกฎาคม-2006 |
สำนักพิมพ์: | APAC-SILICIDE 2006 |
แหล่งอ้างอิง: | Asia-Pacific Conference on Semiconducting Silicides : Science and Technology |
บทคัดย่อ: | Recently we have shown experimentally that a planar metalsemiconductor- metal(MSM) structure having a wide separation between the two metal electrodes exhibits not only the function of a basic optical sensor but also optical sensitivity field-controllable by the bias applied [I]. In this study, we present the experimental results of onedimensional (ID) optical-beam profiling properties of an MSM structure as its application. To our knowledge, no study has appeared on such an application of planar MSM structures. |
URI: | http://dspace.spu.ac.th/handle/123456789/822 |
ปรากฏในกลุ่มข้อมูล: | บทความวิชาการ |
รายการทั้งหมดในระบบคิดีได้รับการคุ้มครองลิขสิทธิ์ มีการสงวนสิทธิ์เว้นแต่ที่ระบุไว้เป็นอื่น